开发者笔记 | 采用多谱DET10A2(DP)型硅(Si)偏压光电探测器实现纳秒激光脉冲参数测量
前言 多谱光学是“光电开发者联盟”理念的呐喊者和实践者,也坚定以“开发工具化”作为产品的核心设计语言。 随着越 […]
前言
多谱光学是“光电开发者联盟”理念的呐喊者和实践者,也坚定以“开发工具化”作为产品的核心设计语言。
随着越来越多的客户选择信任和使用多谱产品,我们收获了大量的反馈与好评:我们欣喜于多谱产品协助各行各业的光电开发者获得好的实验结果,为大家快速打通了 “从零到一”的研发计划第一公里。
基于此,多谱公众号开通了“开发者笔记”专栏,与大家分享光电开发的多谱方案、多谱工具。
开发者
田博士,南京理工大学
实验目的
355nm紫外纳秒激光器的脉宽测量
测量对象
英诺工业纳秒激光器,型号为FOTIA-355-5-50-A,重复频率50K,平均功率5W,官网标称脉宽为12ns。

PD选择
激光的脉冲宽度是表征脉冲激光器性能的一个重要参量,在单脉冲能量相同的条件下,脉宽越窄,激光器的峰值功率越高。
对于纳秒脉冲激光器来讲,可以选用合适的光电探测器PD+示波器进行测量。选择依据是光电探测器的上升时间需要至少小于待测脉宽的1/2(如果上升时间更短,则探测到得波形更完整,不失真),结合该激光器12ns脉宽,PD的上升时间需至少小于6ns。
最终我们选择了多谱光学的DET10A2(DP)型硅(Si)偏压光电探测器,该光电探测器的上升时间为1ns,光谱覆盖范围为190nm-1100nm,在具备和国外进口产品相同性能的前提下价格更低,性价比更高。
实施方案
因激光器的功率较高,采用测量散射光的方案,将激光打到挡光板上并将PD放置在旁边收集散射光,具体实验图如图1所示,红色箭头所指是PD的位置。

图1 纳秒脉冲激光脉宽测量实验
实验结果
示波器为泰克公司的TDS 694C,可以在图2中看出,一格代表10ns,单次激光脉冲的脉宽基本符合官网标称的12s。

图2 脉冲宽度测量
同时也测量了脉冲激光的时间序列,同样取得了良好的效果如图3所示:

图3 脉冲序列测量
结论
在本实验中,多谱光学的DET10A2(DP)型硅(Si)偏压光电探测器表现优异,顺利完成了激光脉宽、幅值、重复频率等主要参数的测量,展现出了高速、稳定、易于使用的产品特点。
多谱光电探测器,是值得信赖的优质光电开发者利器!
多谱光电开发者联盟,也是大家分享技术经验、研讨技术路线、实现原型方案快速迭代的专业平台。
产品名片:
型号DET10A2(DP)
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硅探测器-偏压-常规型
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波长范围:200 – 1100 nm
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带宽350MHz
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上升时间(@50Ω)1ns
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靶面直径1mm
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M4通用螺孔
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SM1光学元件固定螺纹
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